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簡要描述：LQ-50X-EL 光焱科技電致發(fā)光效率測試系統(tǒng) 擁有以下幾點特色：采用單光子偵測技術、NIR 增強光學設計與組件、簡便的設計可與手套箱直接整合，能解決目前LED發(fā)展所面臨的挑戰(zhàn)。
產(chǎn)品型號：LQ-50X-EL廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-03-07訪 問 量： 3579產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | Enlitech | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 測量模式 | 交流 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
| 應用領域 | 能源,電子/電池 | 全向式收光系統(tǒng) | 50mm積分球 |
目前 LED 發(fā)展所面臨的挑戰(zhàn)包含：
(1) 新型態(tài)的 LED 具備低亮度 (< 50000 cd/m2)、衰減快的特性
(2) 發(fā)光半寬（FWHM）較傳統(tǒng) LED 小 (OLED~100 nm; PVSK LED~50 nm)
(3) 非朗伯體 (Non-Lambertian) 分布，使得輝度 (cd/m2) 換算 EQE 時誤差很大
(4) 發(fā)光波長超過視函數(shù)波段 (可見光范圍)，無法以光通量與輝度評價
其中「衰減快」與「紅外發(fā)光的準確評價」，是與轉換效率高低最息息相關，因此光焱科技推出 LQ-50X-EL，采用單光子偵測技術、NIR 增強光學設計與組件并擁有簡便的設計可與手套箱直接整合。
光焱科技 電致發(fā)光效率測試系統(tǒng) LQ-50X-EL 的特色如下：
*采用單光子偵測技術，克服傳統(tǒng)光譜儀在低亮度需要長曝光時間 (1~3秒) 的特征，加快測試速度，以確保測試的準確性與高效率。
*采用 NIR 增強光學設計與組件，使其涵蓋波長可達到 1100 nm，更可擴展到 1700 nm。
*設計簡便，并且可與手套箱直接整合，同時對于各種樣品形式都可以做很好的適配。
LQ-50X-EL 可快速測試每個電壓下的發(fā)光光譜，并可取得輻照度、輝度、CIE坐標等多項參數(shù)值，實測無機 LED 測試量測不重復性小于 0.2 %。
LQ-50X-EL 為 NIST 溯源，與國外校正的白光與綠光 LED 比對，差異值小于 0.5 %。
標準配置：
*全向式收光系統(tǒng) (50 mm 積分球)
*增強型多信道光譜儀測試系統(tǒng)
*探針系統(tǒng)
*量測軟件
*工控機與屏幕
選配規(guī)格：
*紅外光譜擴充模塊 (900 – 1700 nm)
*手套箱整合套件
光焱科技 電致發(fā)光效率測試系統(tǒng) LQ-50X-EL 可用于：
*Perovskite LED / Perovskite Laser Diode
*Organic IR LED
*QD LED / QD Laser Diode
*VESEL Laser Diode
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